薄膜測厚儀，又稱為(wèi)測厚儀、薄膜厚度檢測儀、薄膜厚度儀等，薄膜測厚儀專業适用于量程範圍內(nèi)的塑料薄膜、薄片、隔膜、紙張、箔片、矽片等各種材料的厚度精确測量。
薄膜測厚儀的技(jì)術(shù)特點介紹
嚴格按照标準設計(jì)的接觸面積和(hé)測量壓力，同時(shí)支持各種非标定制(zhì)
測試過程中測量頭自動升降，有(yǒu)效避免了人(rén)為(wèi)因素造成的系統誤差
支持自動和(hé)手動兩種測量模式，方便用戶自由選擇
實時(shí)顯示測量結果的*大(dà)值、*小(xiǎo)值、平均值以及标準偏差等分析數(shù)據，方便用戶進行(xíng)判斷
配置标準量塊用于系統标定，保證測試的精度和(hé)數(shù)據一緻性
系統支持數(shù)據實時(shí)顯示、自動統計(jì)、打印等許多(duō)實用功能，方便快捷地獲取測試結果
系統由微電(diàn)腦(nǎo)控制(zhì)，搭配液晶顯示器(qì)、菜單式界面和(hé)PVC操作(zuò)面闆，方便用戶進行(xíng)試驗操作(zuò)和(hé)數(shù)據查看
支持Lystem™實驗室數(shù)據共享系統，統一管理(lǐ)試驗結果和(hé)試驗報告
标準的RS232接口，便于系統的外部連接和(hé)數(shù)據傳輸
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