不了解基礎參數(shù)，怎麽能用好薄膜測厚儀？

　　随着科技(jì)的發展，近年來(lái)，薄膜的市場(chǎng)需求不斷增加。薄膜的厚度是産品的重要物理(lǐ)指标之一，它直接影(yǐng)響産品的産量、質量、經濟效益和(hé)生(shēng)産成本。薄膜厚度測量也是薄膜制(zhì)造業的基本檢測項目之一。薄膜測厚儀采用顯微光譜法測量小(xiǎo)範圍內(nèi)的反射率，可(kě)進行(xíng)高(gāo)精度的膜厚/光學常數(shù)分析。

　　

　　塗膜的厚度可(kě)以采用無損、非接觸的方式進行(xíng)測量，如各種薄膜、晶片、光學材料和(hé)多(duō)層薄膜等。測量時(shí)間(jiān)方面，可(kě)實現1秒(miǎo)/點的高(gāo)速測量，配備的軟件即使是初次使用也能輕松分析光學常數(shù)。

　　
 

　　雖然薄膜測厚儀在使用中可(kě)以起到高(gāo)精度的測厚作(zuò)用，但(dàn)這一切都需要建立在正确操作(zuò)的條件下。如果操作(zuò)方式錯誤，後果很(hěn)嚴重。不僅不能保證測量數(shù)據的準确性，還(hái)會(huì)造成測厚儀的損壞，影(yǐng)響車(chē)身後期的測試性能。可(kě)見，正确使用膜厚儀很(hěn)重要。

　　

　　不了解基礎參數(shù)，怎麽能用好薄膜測厚儀？基本參數(shù)方面主要包括測量原理(lǐ)、測量範圍、測量誤差、數(shù)據存儲、統計(jì)值、最小(xiǎo)曲率半徑、最小(xiǎo)測量面積、最小(xiǎo)基材厚度、被測物體(tǐ)材料重量、薄膜測厚儀尺寸、等等這些(xiē)數(shù)據雖然在産品說明(míng)書(shū)或者設備标識闆上(shàng)都有(yǒu)展示，但(dàn)是做(zuò)好初步的基礎了解是非常有(yǒu)必要的。如果事先不知道(dào)，在正式操作(zuò)中看，一般是趕不上(shàng)的，但(dàn)實際情況會(huì)很(hěn)倉促。以測量原理(lǐ)為(wèi)例，需要針對不同的被測對象确定合适的測量原理(lǐ)，如磁感應原理(lǐ)或渦流效應原理(lǐ)。如果一開(kāi)始沒有(yǒu)正确選擇測量原理(lǐ)，那(nà)麽下面的操作(zuò)就會(huì)一步步出錯。