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    薄膜測厚儀

    更新時(shí)間(jiān)：2024-06-04

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    浏覽量：2774

    薄膜測厚儀采用光譜幹涉原理(lǐ)進行(xíng)測量，具有(yǒu)非接觸、無破壞、快速等特點，可(kě)在真空(kōng)環境使用；可(kě)與大(dà)行(xíng)程工件台配合，實現大(dà)面積膜厚自動測量。
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