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微納結構三維形貌測量儀
更新時(shí)間(jiān):
2024-06-04
型号:
浏覽量:
1907
微納結構三維形貌測量儀系列微納結構三維形貌檢測儀,基于白光幹涉掃描原理(lǐ),以光波長作(zuò)為(wèi)測量基準,利用納米級高(gāo)精度掃描系統結合具有(yǒu)自主知識産權的高(gāo)精度解析算(suàn)法,實現連續或台階突變微納結構表面三維形貌重構,由此獲得(de)待測物體(tǐ)三維形貌、表面紋理(lǐ)、微觀尺寸等各類外觀參數(shù)測量結果。
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